在使用直讀光譜儀(OES)進(jìn)行金屬成分檢測(cè)時(shí),光譜標(biāo)樣是一個(gè)繞不開(kāi)的重要概念。它不僅是光譜儀正常運(yùn)行的“基準(zhǔn)”,更是確保檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確、穩(wěn)定、可追溯的關(guān)鍵。那么,光譜標(biāo)樣在直讀光譜儀中到底起到哪些作用呢?一、什么是光譜標(biāo)樣?光譜標(biāo)樣(Spec...
進(jìn)口ZSXPrimusⅡ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學(xué)推出的波長(zhǎng)熒光光譜儀,性能,操作方便,已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實(shí)際使用過(guò)程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣那樣的故障,影響正常測(cè)試工作的及時(shí)性和測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,文章針對(duì)ZSX...
隨著用戶的需要也變得和多樣化,理學(xué)集團(tuán)長(zhǎng)年以來(lái)的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體,不斷滿足用戶不斷改變的需求,理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了的XRF-ZSXPrimus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSXPrimus/III+/IV...
X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法,是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀(XRF)是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線),從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器...
德國(guó)斯派克分析儀器公司(SPECTRO)推出了第八代SPECTROMAXx(iCAL2.0智能標(biāo)準(zhǔn)化)火花直讀光譜儀,著重在儀器功能和性能方面進(jìn)行了改進(jìn)與創(chuàng)新,以滿足精確的材料控制和鑄造行業(yè)快速、精確的元素分析要求。SPECTROMAXx直...
表面深度分布及元素分析的重要手段(GD-OES)—材料實(shí)驗(yàn)室研究級(jí)、高分辨率輝光放電光譜儀-德國(guó)SPECTRUMAGDA650HR正式落戶DFG技術(shù)中心。SPECTRUMAGDA650HR汽車(chē)車(chē)身及部件的損壞主要有事故損壞、磨損損壞、腐蝕損...
金屬分析的真正革命——世界*CMOS探測(cè)器(互補(bǔ)金屬氧化物)的直讀光譜儀正式安裝日前,富士和機(jī)械工業(yè)(湖北)有限公司安裝了CMOS探測(cè)器的德國(guó)斯派克SPECTROLAB直讀光譜儀,為該司熔煉鑄造工藝保駕護(hù)航。富士和公司是中國(guó)臺(tái)灣六和機(jī)械股份...